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260086 VO Einführung in die Elektronenmikroskopie II (2012S)
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Voraussichtlich Montag und Dienstag, jeweils 10:15 - 11:00, Josef-Stefan-Hörsaal, Strudlhofgasse 4, 3. Stk., 1090 Wien.Vorbesprechung und 1. Vorlesung MO 05.03.2012
Details
Sprache: Deutsch
Prüfungstermine
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Einsatzbereiche und Methoden elektronenmikroskopischer Untersuchungen, Elektronenbeugung u. Abbildung v. Kristallstrukturen bis zur atomaren Auflösung, das Elektronenmikroskop als Quanteninterferometer. Probenpräparation, vor Ort Erklärungen u. Demonstrationen an den 2 Elektronenmikroskopen der Fakultät für Physik.
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mündliche Prüfung
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Vermittelung von Kenntnissen über Materiewellen in einem Quanteninterferometer, Bedeutung der elektronenmikroskopischen Untersuchungen in der Materialphysik, Nanotechnologie, Biologie u. Medizin. Vermittelung des für die für elektronenmikroskopischen Methoden notwendigen physikalischen Wissens.
Prüfungsstoff
Vorlesung, Diskussionen, Demonstration an den Mikroskopen
Literatur
D. B. Williams, C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy (Plenum Press)
B. Fultz and J. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Springer)
L. Reimer, Transmission Electron Microscopy (Springer)
M. De Graef, Conventional Transmission Electron Microscopy (Cambridge Univ. Press)
B. Fultz and J. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Springer)
L. Reimer, Transmission Electron Microscopy (Springer)
M. De Graef, Conventional Transmission Electron Microscopy (Cambridge Univ. Press)
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
MF 2, MF 4, MaG 6, MaG 9, MaG 13, PD250, LA-Ph212(3)
Letzte Änderung: Mi 19.08.2020 08:06