260086 VO Einführung in die Elektronenmikroskopie II (2013S)

2.50 ECTS (2.00 SWS), SPL 26 - Physik

Voraussichtlich Montag und Dienstag, jeweils 10:15 - 11:00, Josef-Stefan-Hörsaal, Strudlhofgasse 4, 3. Stk., 1090 Wien.

Vorbesprechung und 1. Vorlesung MO 04.03.2013

Details

Sprache: Deutsch

Prüfungstermine

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Einsatzbereiche und Methoden elektronenmikroskopischer Untersuchungen, Elektronenbeugung u. Abbildung v. Kristallstrukturen bis zur atomaren Auflösung, das Elektronenmikroskop als Quanteninterferometer. Probenpräparation, vor Ort Erklärungen u. Demonstrationen an den 2 Elektronenmikroskopen der Fakultät für Physik.

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mündliche Prüfung

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Vermittelung von Kenntnissen über Materiewellen in einem Quanteninterferometer, Bedeutung der elektronenmikroskopischen Untersuchungen in der Materialphysik, Nanotechnologie, Biologie u. Medizin. Vermittelung des für die für elektronenmikroskopischen Methoden notwendigen physikalischen Wissens.

Prüfungsstoff

Vorlesung, Diskussionen, Demonstration an den Mikroskopen

Literatur

D. B. Williams, C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy (Plenum Press)
B. Fultz and J. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Springer)
L. Reimer, Transmission Electron Microscopy (Springer)
M. De Graef, Conventional Transmission Electron Microscopy (Cambridge Univ. Press)

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

MF 2, MF 4, MaG 6, MaG 9, MaG 13,LA-Ph212(3)

Letzte Änderung: Mi 19.08.2020 08:06