Universität Wien
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260197 VO Modern Microscopy Methods for Characterisation in Materials Science (2008S)

2.50 ECTS (2.00 SWS), SPL 26 - Physik

Beginn: Di 22.4.2008, 15:45 Kleiner HS Materialphysik, Strudlhofgasse 4, 3.Stk., 1090 Wien

Details

Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Die Vorlesung gibt einen Überblick über die modernen Methoden der Mikroskopie, sowie deren prinzipiellen Funktionsweisen und ihren potentiellen Anwendungsmöglichkeiten. Nach einer Einführung in die verschiedenen Aspekte der Bildentstehung werden typische optische Methoden wie die Polarisations- und Fluoreszenzmikroskopie, die konfokale Mikroskopie, die Röntgenmikroskopie und die Nahfeldmikroskopie diskutiert. Nach einem kurzen Kapitel über Feldionenmikroskopie, werden die verschiedenen Varianten der Rastersondenmikroskopie besprochen. Der Teil der Elektronenmikroskopie beginnt mit einem Kapitel über Rasterelektronenmikroskopie inklusive Ionenstrahlmikroskopie. Danach werden die unterschiedlichen Techniken ausgehend von der konventionellen bis hin zur fortgeschrittenen Transmissions-Elektronenmikroskopie inklusive Spektroskopie und Beugung besprochen.

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Prüfungsstoff

Literatur


Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55