Achtung! Das Lehrangebot ist noch nicht vollständig und wird bis Semesterbeginn laufend ergänzt.
270203 PR Rastermikroskopische Techniken & Functional Sensing Interfaces (2023S)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Fr 10.02.2023 14:00 bis So 26.02.2023 23:59
- Abmeldung bis So 26.02.2023 23:59
Details
max. 6 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Praktische Erfahrungen in Rasterkraftfeldmikroskopie (AFM) sammeln. Eventuell beinhaltet das Praktikum auch Rastertunnelmikroskopie (STM) und die Kombination von AFM und Raman-Mikroskopie (je nach Probenlage und Belegung des Geräts).
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Beurteilung: Praktische Arbeit, Protokollführung und abschließender Seminarvortrag. Die praktische Arbeit umfasst 50%, das Protokoll und der Vortrag je 25% der Gesamtleistung. 75% müssen zur positiven Beurteilung erreicht werden.
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Differenzierte Methodik der Untersuchung von Oberflächen. Die Proben sind teilweise dediziert für das Praktikum, teilweise stammen sie unmittelbar aus den Forschungsaufgaben der Gruppe. Davon hängen die konkret durchgeführten Experimente ab. Techniken umfassen auch bildgebende Verfahren auf Basis von Kraft-Abstands-Kurven (zB Peak Force QNM).
Prüfungsstoff
Eigenständiges Messen in der Gruppe am Gerät nach Einschulung.
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
AN-4, A.5, CH-MAT-06, WA5, LMC C1, LMC D1
Letzte Änderung: Di 25.04.2023 11:48