Universität Wien
Achtung! Das Lehrangebot ist noch nicht vollständig und wird bis Semesterbeginn laufend ergänzt.

280101 VU Electron diffraction techniques on the Scanning Electron Microscope (2022W)

3.00 ECTS (2.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

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Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 25 Teilnehmer*innen
Sprache: Englisch

Lehrende

    Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

    • Montag 23.01. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Dienstag 24.01. 09:30 - 12:30 Mikroskopiepraktikum Geowissenschaften 2A205 2.OG UZA II
    • Mittwoch 25.01. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Donnerstag 26.01. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Freitag 27.01. 09:30 - 12:30 Seminarraum 2A310 3.OG UZA II
    • Montag 30.01. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Dienstag 31.01. 09:30 - 12:30 Mikroskopiepraktikum Geowissenschaften 2A205 2.OG UZA II
    • Mittwoch 01.02. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Donnerstag 02.02. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Freitag 03.02. 09:30 - 12:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
    • Freitag 03.02. 13:30 - 14:30 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II

    Information

    Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

    In this course the basic principles of electron diffraction methods that can be performed on a scanning electron microscope (SEM) are presented. The underlying physics and crystallographic basis are briefly reviewed and the most commonly used diffraction techniques use don SEM, electron backscatter diffraction and Electron Channeling contrast imaging (ECCI) as well as their application in material characterization are presented in some detail. The lecture will be complemented by demo exercises on the SEM that the participants can follow remotely and by hands on exercises on the PC. The participants attain basic knowledge on SEM electron diffraction methods and competence in processing and interpreting data produced with these diffraction methods.

    Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

    TL 1 handing in worked examples/exercises (max 25 points) by 23.9.2022TL 2 written exam (60 min) (max 25 points) 23.9.2022 14:00 -15:00

    Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

    Course attendance for at least 80%, and a minimum score of 25 pints (cumulative over TL1+TL2)

    Prüfungsstoff

    Course contents

    Literatur

    Lecture notes provided + literature hints contained therein

    Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

    MA-Erd-17.0; MA-ERD-W-1.1;

    Letzte Änderung: Do 31.10.2024 00:16