280122 UE Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (2023W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Mo 04.09.2023 00:00 bis Di 26.09.2023 23:59
- Anmeldung von Do 28.09.2023 00:00 bis Mi 04.10.2023 23:59
- Abmeldung bis Di 31.10.2023 23:59
Details
max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch
Lehrende
Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert
Vorbesprechung am 12. Oktober 2023, 14:30-15:00 (UZA2, Raum 2C315).
Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist für alle Kursteilnehmer*innen verpflichtend!!!
Die Terminfestlegung erfolgt in Abstimmung mit den Studierenden im Zuge der Vorbesprechung.
- Donnerstag 12.10. 14:30 - 15:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
- Donnerstag 15.02. 09:30 - 12:00 Felix-Machatschki-Seminarraum Mineralogie 2B284 2.OG UZA II
- Donnerstag 15.02. 13:15 - 14:30 Felix-Machatschki-Seminarraum Mineralogie 2B284 2.OG UZA II
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen; eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll über alle Übungsteile.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 3. April 2024
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen; eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll über alle Übungsteile.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 3. April 2024
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Beurteilungskriterien:
- aktive Teilnahme an den Übungen: UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
- eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte). Abgabe des Workflow-Protokolls bis 3. April 2024Die erreichten Punkte für die Teilleistungen (UE-SEM, UE-FIB, Workflow-Protokoll) werden zur Ermittlung der Gesamtnote addiert.
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 PunkteBeurteilungsschlüssel:
100-89 Punkte (Sehr Gut, 1)
88-76 Punkte (Gut, 2)
75-63 Punkte (Befriedigend, 3)
62-50 Punkte (Genügend, 4)
49-0 Punkte (Nicht Genügend, 5)
Beurteilungskriterien:
- aktive Teilnahme an den Übungen: UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
- eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte). Abgabe des Workflow-Protokolls bis 3. April 2024Die erreichten Punkte für die Teilleistungen (UE-SEM, UE-FIB, Workflow-Protokoll) werden zur Ermittlung der Gesamtnote addiert.
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 PunkteBeurteilungsschlüssel:
100-89 Punkte (Sehr Gut, 1)
88-76 Punkte (Gut, 2)
75-63 Punkte (Befriedigend, 3)
62-50 Punkte (Genügend, 4)
49-0 Punkte (Nicht Genügend, 5)
Prüfungsstoff
Individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät während der Übungen.
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über sämtliche Übungsteile.
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über sämtliche Übungsteile.
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
MA-ERD-W3.3
Letzte Änderung: Do 12.10.2023 15:48
Die Studierenden haben die speziellen instrumentellen Besonderheiten der hochauflösenden Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie in Theorie und Praxis kennengelernt und sind mit Anwendungsmethoden des fokussierten Ionenstrahls (FIB) vertraut. Die Studierenden erstellen selbständig hochauflösende elektronenoptische Aufnahmen unter Verwendung verschiedener Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und erlernen die Anfertigung von FIB-Querschnitten. Weiters haben die Studierenden Einblick in die praktische Anwendung der EBSD Methode erhalten. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostruktur- und Texturanalytik bei hoher räumlicher Auflösung zur Bearbeitung eigener erdwissenschaftlicher Fragestellungen zu nutzen.Inhalt:
theoretische Einführung: spezielle instrumentelle Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Quelle and E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronen-Abbildung; STEM-Abbildung; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Verwendung des Mikromanipulators; EBSD; FSD