280155 UE Angewandte Kristall-Strukturbestimmung (W2_28_52) (PI) (2010W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Vorbesprechung: Mittwoch, 06.10.2010 um 14.00 Uhr s.t. (pktl.) im Unterrichtsraum 2B284
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Do 16.09.2010 06:00 bis Do 30.09.2010 14:00
- Anmeldung von Mo 04.10.2010 14:00 bis Di 30.11.2010 09:00
- Abmeldung bis Di 30.11.2010 09:00
Details
max. 20 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Studienziele: Die Studierenden beherrschen die strukturelle Charakterisierung mit Röntgenstrahlen an ausgewählten Einkristallen oder pulverförmigen Substanzen in der Praxis, beginnend bei der Probenauswahl, Probenvorbereitung, der Montierung der Probe, bis zur Datensammlung und Auswertung. Sie können selbständig die einschlägigen Instrumente und Rechenverfahren anwenden sowie eine Evaluierung der erzielten Ergebnisse durchführen. Sie können die Anwendung von anderen Strahlungsarten wie Neutronen-, Synchrotron- oder Elektronenstrahlung sowie die heute experimentell zugänglichen Temperatur- und Druckbereiche wiedergeben.
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Mo 07.09.2020 15:42