Universität Wien
Achtung! Das Lehrangebot ist noch nicht vollständig und wird bis Semesterbeginn laufend ergänzt.

301901 VO+UE Introduction into 3D cryo electron microscopy (2024W)

3.00 ECTS (2.00 SWS), SPL 30 - Biologie
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
Moodle

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 20 Teilnehmer*innen
Sprache: Englisch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

jeweils Mi 13.00 -14.30 Uhr HS A/VBC 5

  • Mittwoch 02.10. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 09.10. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 16.10. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 23.10. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 30.10. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 06.11. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 13.11. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 20.11. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 27.11. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 04.12. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 11.12. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 08.01. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 15.01. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 22.01. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien
  • Mittwoch 29.01. 13:00 - 14:30 STB/Hörsaal A Campus Vienna Biocenter 5, 1030 Wien

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Mathematical Background Fourier Theory for 3D EM Correlation and Convolution Information theory for 3D EM Optics of the Transmission electron microscope The electron source The condenser system The objective and image generation within an electron microscope Electron detection Sample preparation Image processing Single particle 2D analysis Single particle 3D generation Single particle refinement and validation Tomographic processing Modern conceptsPracticals/Tutorials: Negative staining EM Cryo EM Tomographic acquisition Single particle image processing Tomographic image processing

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Die Beurteilung basiert auf folgenden Teilleistungen: Aktive Teilnahme und Ergebnis der Versuche, theoretisches Wissen in Form einer Abschlussprüfung.

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Verpflichtende AnwesenheitGrundverstaendis der Konzepte soll erworben werdenAktive Teilnahme und Ergebnis der Versuche, Theoretisches Wissen (Abschlussprüfung);(Die prozentuelle Aufteilung der Teilleistungen wird vom Kursleiter bekanntgegeben, jede der Teilleistungen muss positiv sein.)

Prüfungsstoff

Inhalte der Lehrveranstaltungseinheiten

Literatur

The lecturers will provide slides that gather the required material. Suggestions for further reading material will be provided during the lecture.

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

PhD (SPL 56), WZB, MMEI III, MMB IV., MNEU V.

Letzte Änderung: Fr 19.07.2024 11:06